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　　[敏感詞]由ICT檢測設(shè)備廠家為大家分析ICT測試盲點(diǎn)的原因。?

　　1.當(dāng)電阻與跳線并聯(lián)時(shí)，無法測量電阻

　　2.無法測量與跳線并聯(lián)的電感（或變壓器，繼電器）。

　　3.電感的錯(cuò)誤部分是跳線或短路，無法測試。

　　4.小型電容器與小型電阻器并聯(lián)連接，無法測量小型電容器。

　　5.電感與電阻器或電容器及其他組件并聯(lián)連接。電阻或其他組件無法測量。

　　6.二極管以相同方向并聯(lián)連接，并且檢測不到缺失的部件之一或空焊。

　　7.不能測量與小電阻并聯(lián)組件并聯(lián)的組件。

　　8.電容器的電容太小，測試通常不準(zhǔn)確。

　　9.IC，晶體振蕩器，可調(diào)電阻器（VR），熱敏電阻，浪涌吸收器和其他組件的內(nèi)部性能無法測量或無法準(zhǔn)確測試。

　　10.二極管和晶體管與大電容器并聯(lián)連接，無法測量二極管和晶體管。

　　11.組件的高低點(diǎn)在同一個(gè)短路組中，并且這些組件不可測試。

　　12.在IC空焊測試過程中，如果被測IC的引腳和電容器并聯(lián)連接，則該引腳如果斷開則不能進(jìn)行測試。

　　13.小電容器與大電容器（C1//C2）并聯(lián)連接，無法測量小電容器。一般來說，C2的電容是C1的10倍以上。C1是不可預(yù)測的。