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　　寫這篇論文的目的不是別的，而是資源共享。希望國內(nèi)的有志之士也能研制出世界一流的ICT檢測(cè)設(shè)備。讓我們看看他們ICT檢測(cè)設(shè)備的技術(shù)組件在哪里。我們可以開發(fā)每臺(tái)成本約500萬美元的信通技術(shù)ICT檢測(cè)設(shè)備。

　　ICT檢測(cè)設(shè)備，即在電路測(cè)試、電路板內(nèi)部電路測(cè)試中，這類設(shè)備是為了快速檢查電路板的缺陷。用于大規(guī)模生產(chǎn)的設(shè)備。

　　我們使用的ICT檢測(cè)設(shè)備的功能無非就是這些：1。接觸測(cè)試，即開路測(cè)試。

　　2.短路試驗(yàn)，即短路試驗(yàn)。

　　3.OX/JX測(cè)試。即連接器測(cè)試(也可以測(cè)量BGA和IC是否無焊料。

　　4.組件測(cè)試，即組件測(cè)試。元器件測(cè)試分為電阻測(cè)試、電容測(cè)試和電感測(cè)試。

　　5.上電測(cè)試，即測(cè)試IC部分。為了燃燒。

　　這五種功能的設(shè)備每臺(tái)價(jià)值500萬美元，前四種功能的測(cè)試儀器每臺(tái)也能賣到100萬(據(jù)我所知有幾臺(tái)測(cè)試儀器)?？纯此麄兊臏y(cè)試原理。

　　接觸試驗(yàn)

　　開路測(cè)試，給指定的測(cè)試點(diǎn)一定的電壓，在另一個(gè)指定點(diǎn)測(cè)量電壓。如果電壓小于給定值，說明這一點(diǎn)有問題。這種電路不難吧？網(wǎng)上有很多經(jīng)典的硬件電路。

　　短期測(cè)試

　　短路測(cè)試是測(cè)試兩點(diǎn)之間的電阻。該理論與電阻測(cè)試相同，[敏感詞]將詳細(xì)描述。

　　OX/JX測(cè)試

　　上部傳感器芯片和下部針尖發(fā)出交流信號(hào)。傳感器芯片感應(yīng)到的信號(hào)在一定范圍內(nèi)，超出范圍則判斷有問題。

　　部件試驗(yàn)

　　元件測(cè)試更簡(jiǎn)單，電感可以按零電阻計(jì)算(所有測(cè)試儀器都這樣做)。在元件的一端施加電流，在另一端測(cè)試電壓(簡(jiǎn)單，如果你想要硬件電路圖，我這里有，[敏感詞]到0.03%，13642869852 email  : lof  _ lripa  @ 163 . com)。

　　另外，并聯(lián)電阻的測(cè)試也很巧妙。它利用運(yùn)算放大器的虛連接和等電壓特性。測(cè)試方法如下：

　　電阻R2兩端的電壓相等，電流為0。因此，被測(cè)電阻R1的電流為I作為給定電流，這樣就可以測(cè)出電壓V，R1值為R=V/I

　　用運(yùn)算放大器測(cè)試。從“A”點(diǎn)來看“虛擬土地”的概念是：* Ix=Iref  # f  h  . d  . y/v  . e  . j

　　rx=vs/v0 * rref  * f  ' n-o7 l  r5 v0 n1 e9 x；m

　　Vs和Rref分別是激勵(lì)信號(hào)源和儀表計(jì)算電阻。測(cè)量V0，然后可以找到Rx。8 e  A0 G6 y9 A(N；M* g

　　如果待測(cè)Rx是電容或電感，那么Vs交流信號(hào)源，Rx是阻抗形式，也可以得到C或L。1 _，\ Q  F- q' c

　??！]' @4 L' Q: D0 N！I1 W  |

　　通電測(cè)試，即通電測(cè)試

　　上電測(cè)試是測(cè)量IC的功能，比如邏輯器件，只測(cè)量真值表。測(cè)試集成電路功能是否有問題。還有所謂的邊界掃描測(cè)試，也就是邊界掃描。給IC的管腳一個(gè)定時(shí)，檢測(cè)其他管腳上的信號(hào)是一種測(cè)試，這是測(cè)試IC的一個(gè)連接問題。據(jù)說這是一種先進(jìn)的測(cè)試方法。

　　測(cè)試原理已經(jīng)完成，這些原理是基本數(shù)字模擬信號(hào)的應(yīng)用。如果你想知道具體的參數(shù)，請(qǐng)聯(lián)系我。另外，我可以簡(jiǎn)單講一下我開發(fā)的測(cè)試設(shè)備的硬件結(jié)構(gòu)：

　　主要有兩種硬件結(jié)構(gòu)：1。功能板。2.尋址板(尋址意味著找到指定的針尖)可以通過以下方式使用：

　　功能板用于連接計(jì)算機(jī)，產(chǎn)生和測(cè)量電流和電壓信號(hào)，控制尋址板，可由現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列控制。通過將尋址板所連接的引腳位置與產(chǎn)生的信號(hào)相連接，可以控制待測(cè)試板的每個(gè)組件。尋址板也可以使用FPGA找到指定的管腳點(diǎn)。如果有太多128或256針點(diǎn)，將使用繼電器。

　　以上是對(duì)一個(gè)ICT檢測(cè)設(shè)備的原理和結(jié)構(gòu)的一些描述，供有志之士參考。如果有錯(cuò)請(qǐng)指正。